Análise Espacial Espectral Bidimensional em partículas de material compósito Al\SiC

Authors

  • Edmary Silveira Barreto Araújo Instituto Federal da Bahia (IFBA)
  • Lurimar Smera Batista Instituto Federal da Bahia (IFBA)
  • João Domingos Scalon Universidade Federal de Lavras (UFLA)

DOI:

https://doi.org/10.5540/tema.2014.015.01.0073

Abstract

Este trabalho investiga o padrão da distribuição espacial de partículas de carboneto de silício em uma liga de alumínio (Al/SiC) utilizando análise espacial espectral bidimensional. Esta técnica se baseia na transformada de Fourier da função de autocovariância amostral. A análise espectral é uma ferramenta poderosa para investigar o padrão espacial de pontos, uma vez que não assume características estruturais dos dados antes da análise e utiliza-se apenas da função espectral. O material compósito foi produzido pelo Departamento de Engenharia de Materiais, da Universidade de Sheffied, Reino Unido. As coordenadas dos centros das partículas foram adquiridas através de tecnicas de processamento de imagem. O espectro polar do periodograma e métodos de Monte-Carlo são usados para testar a hipótese de completa aleatoriedade espacial das partículas. Os resultados mostram que as partículas de carboneto de silício apresentam distribuição espacial completamente aleatória na liga de alumínio e que a análise espacial espectral pode ser uma ferramenta alternativa para investigar padrões de configurações pontuais no espaço.

Author Biographies

Edmary Silveira Barreto Araújo, Instituto Federal da Bahia (IFBA)

Departamento de Matemática

Lurimar Smera Batista, Instituto Federal da Bahia (IFBA)

Departamento de Matemática

João Domingos Scalon, Universidade Federal de Lavras (UFLA)

Departamento de Ciências Exatas

References

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Published

2014-04-09

How to Cite

Araújo, E. S. B., Batista, L. S., & Scalon, J. D. (2014). Análise Espacial Espectral Bidimensional em partículas de material compósito Al\SiC. Trends in Computational and Applied Mathematics, 15(1), 073–081. https://doi.org/10.5540/tema.2014.015.01.0073

Issue

Section

Original Article